El seminario arrancará a las 8:30 con las palabras de la anfitriona, la Ing. Lira Rossana Giménez, Directora General del Instituto Nacional de Tecnología y Normalización (INTN), quien tuvo a su cargo la organización del evento. Seguidamente, el presidente del Sistema Interamericano de Metrología (SIM), el panameño Javier Arias, tendrá a su cargo la bienvenida a los participantes del seminario internacional.
Posteriormente, se tendrá las palabras del especialista del Banco Interamericano de Desarrollo (BID), Gabriel Casaburi, experto en la División Competitividad, Tecnología e Innovación.
Ya en el campo de las ponencias, a las 9:00 se tendrá la disertación de Javier Arias sobre “La transformación digital en el SIM” que tendrá una duración de aproximadamente 30 minutos para luego dar lugar a las preguntas y respuestas de los participantes. Ana Cipyonka, de Francia, tendrá a su cargo la exposición sobre “Nuevos servicios digitales ofrecidos por el BIPM” a partir de las 9:40 con la misma temática que su antecesor.
A las 10:50, Eduin Culma, de Colombia hablará sobre “Impacto de la transformación digital en las mediciones globales”, también durante media hora y periodo para preguntas y respuestas. Carlos Galván de México, disertará sobre “Últimos avances en la definición del esquema de un DCC” desde las 11:30 y en horas de la tarde, a partir de las 13:40, se tendrá la exposición de la representante del INTN, Lic. Sonia Chang quien hablará sobre “Hoja de ruta para la transformación digital del ONM. El cierre de las ponencias estará a cargo nuevamente de Carlos Galván quien desde las 14:20 hablará acerca de “Proyecto Termohigrobarómetro THB”.
EL cierre del seminario será a las 15:00.
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Con la presencia del Ministro de Industria y Comercio, Javier Giménez, del presidente de la Unión Industrial Paraguaya (UIP), Enrique Duarte, del ex presidente y miembro del Conacyt, Eduardo Felippo, la Directora del Instituto Nacional de Tecnología, Normalización y Metrología (INTN), Ing. Lira Rossana Giménez, el presidente del Sistema Interamericano de Metrología (SIM), Javier Arias, la Directora de Relaciones Internacional del BIPM (Oficina Internacional de Pesas y Medidas que es el coordinador mundial de la metrología) viceministros y demás autoridades nacionales y los delegados de los 33 países miembros del SIM, quedó inaugurada oficialmente la Asamblea General del SIM que se realiza en el marco de la SEMANA SIM 2023 (SIM-WEEK).
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