El Director General del INTN, Prof. Ing. Raimundo Sánchez mantuvo una reunión con el consultor del Banco Interamericano de Desarrollo (BID), Dr. Alexis Valqui, que en esta, su segunda misión en el marco de identificación de un proyecto de fortalecimiento del INTN, solicitado por la Ministra de Industria y Comercio (MIC) Liz Cramer, expuso cual podría ser el alcance de una primera etapa de cooperación técnica y luego, una segunda más ambiciosa, como parte de un crédito a ser incorporado en el plan de gobierno.
En esta primera etapa se habla de un elemento condicionante para fortalecer los dos pilares del Sistema Nacional de la Calidad, la Normalización y la Metrología, que es la separación de la Metrología Legal de la Metrología Científica e Industrial, de manera a enfocar los esfuerzos en esta metrología como soporte fundamental del desarrollo de las industrias. La reunión fue sumamente productiva, el titular del INTN apoyó las propuestas del consultor y sostuvo que solicitará que sus colaboradores atiendan las recomendaciones del consultor ya que esta es una nueva visión, que en el día a día se pierde de vista y solo se enfoca en la metrología legal.
El objetivo principal de esta segunda misión fue la identificación y elaboración de una propuesta para un proyecto del BID, el enfoque de esta cooperación desde el primer momento fue la Metrología Científica, la Metrología Industrial y la Normalización, para que en una segunda etapa se pueda apoyar de manera más integral lo que el INTN necesita, según las exigencias internacionales tanto para la práctica de la metrología como para apoyar a que las industrias nacionales sean más competitivas en el contexto del comercio internacional.
Se identificaron tres líneas de acción de esta primera parte, que integraran la propuesta al BID a través del MIC:
Los resultados de esta primera etapa apalancaran la propuesta de la segunda parte.
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Con la presencia del Ministro de Industria y Comercio, Javier Giménez, del presidente de la Unión Industrial Paraguaya (UIP), Enrique Duarte, del ex presidente y miembro del Conacyt, Eduardo Felippo, la Directora del Instituto Nacional de Tecnología, Normalización y Metrología (INTN), Ing. Lira Rossana Giménez, el presidente del Sistema Interamericano de Metrología (SIM), Javier Arias, la Directora de Relaciones Internacional del BIPM (Oficina Internacional de Pesas y Medidas que es el coordinador mundial de la metrología) viceministros y demás autoridades nacionales y los delegados de los 33 países miembros del SIM, quedó inaugurada oficialmente la Asamblea General del SIM que se realiza en el marco de la SEMANA SIM 2023 (SIM-WEEK).
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