El evento se realizó en el Centro de Investigaciones de Metrología- El Salvador. El Director del Organismo Nacional de Metrología, Ing. César Riveros y el Jefe de la Unidad de Metrología Científica e Industrial, Lic. Arnaldo Florencio, representaron a nuestra institución.
Durante la semana se realizó la Asamblea General del SIM, el Foro de Metrología Legal y diversas reuniones con el QSTF (Quality System Task Force); que es un grupo conformado por miembros del SIM para realizar la revisión de los Sistemas de Gestión de Calidad de los institutos nacionales de Metrología, con el Comité de Revista de Acuerdo y con el Instituto Físico Técnico Alemán (The Physikalisch Technische Bundesanstalt -PTB).
El Sistema Interamericano de Metrología (SIM) es el resultado de un amplio acuerdo entre organizaciones nacionales de metrología de 34 naciones de las Américas. La misión del SIM es promover y apoyar una infraestructura de medición integrada en las Américas que permita a los Institutos Nacionales de Metrología (INM) el estímulo a la innovación, la competitividad, el comercio, la seguridad de los consumidores y el desarrollo sostenible a través de la participación efectiva en la comunidad internacional de metrología.
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Con la presencia del Ministro de Industria y Comercio, Javier Giménez, del presidente de la Unión Industrial Paraguaya (UIP), Enrique Duarte, del ex presidente y miembro del Conacyt, Eduardo Felippo, la Directora del Instituto Nacional de Tecnología, Normalización y Metrología (INTN), Ing. Lira Rossana Giménez, el presidente del Sistema Interamericano de Metrología (SIM), Javier Arias, la Directora de Relaciones Internacional del BIPM (Oficina Internacional de Pesas y Medidas que es el coordinador mundial de la metrología) viceministros y demás autoridades nacionales y los delegados de los 33 países miembros del SIM, quedó inaugurada oficialmente la Asamblea General del SIM que se realiza en el marco de la SEMANA SIM 2023 (SIM-WEEK).
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