Funcionarias del INTN realizan estudio de la carga fúngica del Archivo Nacional de Asunción (ANA)
El proyecto consiste en 4 muestreos que abarcan todas las estaciones del año, y el objetivo del mismo es detectar el nivel de hongos en el ambiente. Mediante el método de sedimentación, se podrán detectar el nivel de las cargas microbiológicas en diferentes tiempos y su influencia, realizadas en tiempos de 15 min., 30 min. y 1 hora, para ver la influencia del tiempo en la cantidad de carga microbiana (que crecen) en los diferentes ambientes.
La importancia del estudio reside en valorar la contaminación y cuanto afecta al personal de cada área y a los archivos resguardados, a modo de tener un nivel controlado de la carga fúngica; también esta inspección posibilita mostrar el tipo de especies de hongos que crecen en el ambiente del ANA. Éste trabajo, inició en diciembre de 2018, dando la continuación correspondiente.
El trabajo es realizado en el marco del convenio firmado entre el INTN y la Secretaria Nacional de Cultura, con acompañamiento del personal técnico del ANA.
Compartir esta noticia
Con la presencia del Ministro de Industria y Comercio, Javier Giménez, del presidente de la Unión Industrial Paraguaya (UIP), Enrique Duarte, del ex presidente y miembro del Conacyt, Eduardo Felippo, la Directora del Instituto Nacional de Tecnología, Normalización y Metrología (INTN), Ing. Lira Rossana Giménez, el presidente del Sistema Interamericano de Metrología (SIM), Javier Arias, la Directora de Relaciones Internacional del BIPM (Oficina Internacional de Pesas y Medidas que es el coordinador mundial de la metrología) viceministros y demás autoridades nacionales y los delegados de los 33 países miembros del SIM, quedó inaugurada oficialmente la Asamblea General del SIM que se realiza en el marco de la SEMANA SIM 2023 (SIM-WEEK).
Ver Más“La música eleva los sentidos” y prueba de ello fue la maravillosa presentación que tuvo la Orquesta de Cateura durante la apertura del “Seminario Internacional de Sensibilización de la Metrología en la Era Digital” que forma parte de la SEMANA SIM 2023 (SIM-WEEK) organizado por el Instituto Nacional de Tecnología, Normalización y Metrología (INTN), evento que reúne a expertos y autoridades de Institutos Nacionales de Metrología (INM) de más de 45 países miembros del Sistema Interamericano de Metrología (SIM).
Ver MásLa Viceministra de Industria, María Lorena Méndez, estuvo presente en el acto de apertura del Seminario Internacional de Sensibilización: Metrología en la Era Digital, realizado en el marco de la SEMANA SIM 2023 (SIM-WEEK), donde manifestó el apoyo y el compromiso del Ministerio de Industria y Comercio en el fortalecimiento del Instituto Nacional de Tecnología, Normalización y Metrología (INTN).
Ver Más“Seminario Internacional de Sensibilización: Metrología en la Era Digital” “Hay que entender que la METROLOGÍA es una ciencia, pero materializada para darnos una mejor calidad de vida”.
Ver MásEn el marco de la SEMANA SIM 2023 (SIM-WEEK), se tiene previsto para mañana miércoles el “Seminario Internacional de Sensibilización” con el tema: METROLOGÍA EN LA ERA DIGITAL.
Ver MásLa Directora General del Instituto Nacional de Tecnología y Normalización (INTN), Ing. Lira Rossana Giménez, dio la bienvenida hoy a las distintas delegaciones extranjeras que participan de la SEMANA SIM (SIMWEEK) evento anual del Sistema Interamericano de Metrología (SIM).
Ver Más