Ante el pedido recibido por parte del Director del Archivo Nacional, Vicente Arrúa, para llevar a cabo un estudio y asesoría sobre la carga microbiológica en el aire del Archivo Nacional y la Biblioteca Nacional del Paraguay; se llevó a cabo la firma del Convenio Marco de Cooperación Interinstitucional entre la Secretaría Nacional de Cultura y el Instituto Nacional de Tecnología, Normalización y Metrología.
El trabajo consistirá en la visita y diseño de muestreos por parte del INTN, así también la capacitación a los funcionarios de la Secretaría.
A fin de comenzar con las acciones conjuntas, el Ministro de la Secretaría Nacional de Cultura, Rubén Capdevila, y el Director General del INTN, Raimundo Sánchez, suscribieron un Acuerdo Marco de Cooperación.
Para coordinar este trabajo conjunto, la SNC también firmó el convenio marco de cooperación con la Facultad de Ciencias Exactas y Naturales (FACEN) de la Universidad Nacional de Asunción y la Facultad de Ciencias Químicas de la UNA.
En diciembre de 2018, funcionarios técnicos del Archivo Nacional, del INTN y de la Facultad de Ciencias Químicas de la UNA, realizaron una semana de capacitación con una experta bióloga ambiental chilena, con el tema “Asesoría para estudio de carga microbiológica en el aire” y “Capacitación sobre biodeterioro de patrimonio bibliográfico y documental; mecanismos y prevención”. En aquella ocasión, la bióloga ambienta María Fernando Espinosa Ipinza, del Archivo Nacional de Chile, explicaba que se llevaba a cabo una experiencia piloto entre las instituciones mencionadas para hacer una medición de la carga microbiológica en el aire en estos espacios cerrados como son el depósito y las salas de trabajo del Archivo Nacional y la Biblioteca Nacional, para conocer los datos ambientales, obteniendo la información acerca de cómo se enfrentan los trabajadores a estos espacios cerrados, en términos de salud, y si la carga microbiana es muy alta, y qué efectos a la salud podrían producir.
Compartir esta noticia
Con la presencia del Ministro de Industria y Comercio, Javier Giménez, del presidente de la Unión Industrial Paraguaya (UIP), Enrique Duarte, del ex presidente y miembro del Conacyt, Eduardo Felippo, la Directora del Instituto Nacional de Tecnología, Normalización y Metrología (INTN), Ing. Lira Rossana Giménez, el presidente del Sistema Interamericano de Metrología (SIM), Javier Arias, la Directora de Relaciones Internacional del BIPM (Oficina Internacional de Pesas y Medidas que es el coordinador mundial de la metrología) viceministros y demás autoridades nacionales y los delegados de los 33 países miembros del SIM, quedó inaugurada oficialmente la Asamblea General del SIM que se realiza en el marco de la SEMANA SIM 2023 (SIM-WEEK).
Ver Más“La música eleva los sentidos” y prueba de ello fue la maravillosa presentación que tuvo la Orquesta de Cateura durante la apertura del “Seminario Internacional de Sensibilización de la Metrología en la Era Digital” que forma parte de la SEMANA SIM 2023 (SIM-WEEK) organizado por el Instituto Nacional de Tecnología, Normalización y Metrología (INTN), evento que reúne a expertos y autoridades de Institutos Nacionales de Metrología (INM) de más de 45 países miembros del Sistema Interamericano de Metrología (SIM).
Ver MásLa Viceministra de Industria, María Lorena Méndez, estuvo presente en el acto de apertura del Seminario Internacional de Sensibilización: Metrología en la Era Digital, realizado en el marco de la SEMANA SIM 2023 (SIM-WEEK), donde manifestó el apoyo y el compromiso del Ministerio de Industria y Comercio en el fortalecimiento del Instituto Nacional de Tecnología, Normalización y Metrología (INTN).
Ver Más“Seminario Internacional de Sensibilización: Metrología en la Era Digital” “Hay que entender que la METROLOGÍA es una ciencia, pero materializada para darnos una mejor calidad de vida”.
Ver MásEn el marco de la SEMANA SIM 2023 (SIM-WEEK), se tiene previsto para mañana miércoles el “Seminario Internacional de Sensibilización” con el tema: METROLOGÍA EN LA ERA DIGITAL.
Ver MásLa Directora General del Instituto Nacional de Tecnología y Normalización (INTN), Ing. Lira Rossana Giménez, dio la bienvenida hoy a las distintas delegaciones extranjeras que participan de la SEMANA SIM (SIMWEEK) evento anual del Sistema Interamericano de Metrología (SIM).
Ver Más