Con la presencia del Ministro de Industria y Comercio, Javier Giménez, del presidente de la Unión Industrial Paraguaya (UIP), Enrique Duarte, del ex presidente y miembro del Conacyt, Eduardo Felippo, la Directora del Instituto Nacional de Tecnología, Normalización y Metrología (INTN), Ing. Lira Rossana Giménez, el presidente del Sistema Interamericano de Metrología (SIM), Javier Arias, la Directora de Relaciones Internacional del BIPM (Oficina Internacional de Pesas y Medidas que es el coordinador mundial de la metrología) viceministros y demás autoridades nacionales y los delegados de los 33 países miembros del SIM, quedó inaugurada oficialmente la Asamblea General del SIM que se realiza en el marco de la SEMANA SIM 2023 (SIM-WEEK).

“La música eleva los sentidos” y prueba de ello fue la maravillosa presentación que tuvo la Orquesta de Cateura durante la apertura del “Seminario Internacional de Sensibilización de la Metrología en la Era Digital” que forma parte de la SEMANA SIM 2023 (SIM-WEEK) organizado por el Instituto Nacional de Tecnología, Normalización y Metrología (INTN), evento que reúne a expertos y autoridades de Institutos Nacionales de Metrología (INM) de más de 45 países miembros del Sistema Interamericano de Metrología (SIM).

La Viceministra de Industria, María Lorena Méndez, estuvo presente en el acto de apertura del Seminario Internacional de Sensibilización: Metrología en la Era Digital, realizado en el marco de la SEMANA SIM 2023 (SIM-WEEK), donde manifestó el apoyo y el compromiso del Ministerio de Industria y Comercio en el fortalecimiento del Instituto Nacional de Tecnología, Normalización y Metrología (INTN).

“Seminario Internacional de Sensibilización: Metrología en la Era Digital” “Hay que entender que la METROLOGÍA es una ciencia, pero materializada para darnos una mejor calidad de vida”.

En el marco de la SEMANA SIM 2023 (SIM-WEEK), se tiene previsto para mañana miércoles el “Seminario Internacional de Sensibilización” con el tema: METROLOGÍA EN LA ERA DIGITAL.

La Directora General del Instituto Nacional de Tecnología y Normalización (INTN), Ing. Lira Rossana Giménez, dio la bienvenida hoy a las distintas delegaciones extranjeras que participan de la SEMANA SIM (SIMWEEK) evento anual del Sistema Interamericano de Metrología (SIM).