El SIM a través del INTN invita a participar en la Conferencia Anual 2021 “Metrología para la Transformación Digital” que tendrá lugar en medios virtuales los días 1 y 2 de septiembre de 2021 .
La Transformación Digital es un proceso en evolución que sigue creciendo en importancia para la competitividad de las economías y la generación de bienestar social y económico. Para ello, se requiere no solo desarrollar tecnología, sino establecer nuevos mecanismos de colaboración entre los actores públicos, actores privados y la sociedad en general en el ámbito digital, para crear y generar bienes públicos.
La transformación digital en metrología mejora y multiplica el impacto de la metrología y abre nuevas posibilidades para el desarrollo y la innovación de la metrología. Se espera que la metrología experimente esta transformación con cambios significativos en sus propios conceptos, servicios, en el uso y aplicaciones para sus diversos usuarios.
Es necesario conocer los avances y desafíos que se dan en los diferentes actores del campo metrológico en un entorno de transformación digital. Por esta razón, invitamos no solo a los Institutos Nacionales de Metrología sino también a los laboratorios de calibración y a la industria a compartir e intercambiar sus experiencias y desarrollos.
Este año la conferencia se centrará en los siguientes temas:
- SI digital
- Certificados de calibración digital
- Inteligencia artificial
- Sistemas en la nube
- Automatización de laboratorio
- Gemelos digitales
Fecha: 1 y 2 de septiembre de 2021 de 11h00 a 14h00.
Los inscritos recibirán, al registrarse, los detalles de la conexión para la conferencia después del registro.
Fecha limite, viernes 27 de agosto.
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