Finalizamos otra exitosa edición del CCyT y el ganador del 1er lugar es el Proyecto "Dispositivo didáctico de aprendizaje de colores básicos destinado a niños con trastornos del espectro autista" del Colegio Técnico Nacional (Asunción) y los investigadores son Álvaro Ozuna, Emile Candia y Lucas Villalba con la tutoría del Prof. Abel Admen Olivera.
El equipo ganador se adjudicó la pasantía de una semana en el INMETRO de Río de Janeiro.
El 2do y 3er puesto lo ocupan el proyecto "Obtención de agua por medio de la humedad presente en el aire" también del Colegio Técnico Nacional (Asunción) con los investigadores Diana Salinas y Giuliano Formigli y la tutoría del Prof. Abel Admen Olivera y el proyecto "Planta de tratamiento biológico para aguas residuales domésticas (aguas grises)" del Colegio Técnico Privado Subvencionado “Juan XXIII” (Pilar) con los investigadores Alicia Alarcón, Vanessa Candia y Yanina Espinoza y la tutoría del Prof. Milton Zorrilla.
Todos los integrantes de éstos equipos se adjudicaron becas para los cursillos de ingreso de Politécnica UNA y FIUNA, además de viajar al PTI de Hernandarias.
El tema de la cuarta edición de la competencia fue “La evolución constante del Sistema Internacional de Medidas” y el jurado estuvo integrado por representantes de INMETRO, PTI, FIUNA, POLITECNICA UNA y el CONACYT.
La declaración de interés educativo por parte del MEC dio un gran impulso para crecer y llegar a más colegios puesto que el concurso está dirigido principalmente a estudiantes investigadores de bachilleratos técnicos y científicos.
En la primera edición resultó ganador un equipo del colegio Técnico Nacional,en la segunda un equipo del Colegio Juan XXIII de la ciudad de Pilar y en la tercera y cuarta nuevamente equipos del Técnico Nacional.
Agradecemos a todas las instituciones que nos apoyaron en la realización de la 4ta Edición del Concurso de Ciencia y Tecnología- INTN.
Compartir esta noticia
Últimas Noticias Publicadas
Con la presencia del Ministro de Industria y Comercio, Javier Giménez, del presidente de la Unión Industrial Paraguaya (UIP), Enrique Duarte, del ex presidente y miembro del Conacyt, Eduardo Felippo, la Directora del Instituto Nacional de Tecnología, Normalización y Metrología (INTN), Ing. Lira Rossana Giménez, el presidente del Sistema Interamericano de Metrología (SIM), Javier Arias, la Directora de Relaciones Internacional del BIPM (Oficina Internacional de Pesas y Medidas que es el coordinador mundial de la metrología) viceministros y demás autoridades nacionales y los delegados de los 33 países miembros del SIM, quedó inaugurada oficialmente la Asamblea General del SIM que se realiza en el marco de la SEMANA SIM 2023 (SIM-WEEK).
Ver Más
“La música eleva los sentidos” y prueba de ello fue la maravillosa presentación que tuvo la Orquesta de Cateura durante la apertura del “Seminario Internacional de Sensibilización de la Metrología en la Era Digital” que forma parte de la SEMANA SIM 2023 (SIM-WEEK) organizado por el Instituto Nacional de Tecnología, Normalización y Metrología (INTN), evento que reúne a expertos y autoridades de Institutos Nacionales de Metrología (INM) de más de 45 países miembros del Sistema Interamericano de Metrología (SIM).
Ver Más
La Viceministra de Industria, María Lorena Méndez, estuvo presente en el acto de apertura del Seminario Internacional de Sensibilización: Metrología en la Era Digital, realizado en el marco de la SEMANA SIM 2023 (SIM-WEEK), donde manifestó el apoyo y el compromiso del Ministerio de Industria y Comercio en el fortalecimiento del Instituto Nacional de Tecnología, Normalización y Metrología (INTN).
Ver Más
“Seminario Internacional de Sensibilización: Metrología en la Era Digital” “Hay que entender que la METROLOGÍA es una ciencia, pero materializada para darnos una mejor calidad de vida”.
Ver Más
schedule
En el marco de la SEMANA SIM 2023 (SIM-WEEK), se tiene previsto para mañana miércoles el “Seminario Internacional de Sensibilización” con el tema: METROLOGÍA EN LA ERA DIGITAL.
Ver Más
La Directora General del Instituto Nacional de Tecnología y Normalización (INTN), Ing. Lira Rossana Giménez, dio la bienvenida hoy a las distintas delegaciones extranjeras que participan de la SEMANA SIM (SIMWEEK) evento anual del Sistema Interamericano de Metrología (SIM).
Ver Más