Se llevó a cabo la apertura del evento por los 60 años del Instituto Nacional de Tecnología, Normalización y Metrología (INTN), en compañía de autoridades nacionales e internacionales.
Un momento histórico que marca el comienzo de una celebración. Dando apertura a este acontecimiento, el Econ. Omar Pico Insfrán, Director General del INTN, destacó el gran valor técnico que existe en el INTN, resaltando que, hoy hace que vayamos por un buen camino.
También agradeció la presencia y el acompañamiento de los diferentes sectores, entre ellas el Consejero económico de la embajada de China Taiwan Sr. Raul Ming-Chung Chan; Viceministro de MIPYME del MIC Don Máximo Barreto; Viceministra de Inversiones y Exportaciones REDIEX del MIC Doña Gilda Arrellaga; Sr. Aldo Insfrán de la Secretaria Nacional de Turismo; Director General Por el proyecto Sistemas y Tecnología Agrícolas para Facilitar el Comercio en Paraguay (T-FAST) Sr. Daniel Oviedo; Sr. Aníbal Giménez del MIC; Presidente del Instituto Uruguayo de Normas Técnicas UNIT Sr. Josè Pedro Sintas, Presidenta del Instituto Nacional de Tecnología Industrial de Argentina INTI Sra. Sandra Mayol; MiPYME COMPITE programa de cooperación de la Unión Europea en Paraguay Sra. Palmira López Frezno; Sra. Beatriz Pérez, Representante del Laboratorio Tecnológico del Uruguay LATU; Presidente de la Unión Industrial Paraguaya Sr. Enrique Duarte; Presidente del Servicio Nacional de Calidad y Sanidad Vegetal y de Semillas (SENAVE) Sr. Rodrigo González; Sra. Alba Cabrera, Secretaria Ejecutiva del Organismo Nacional de Acreditación ONA; Directora General del Instituto Nacional de Alimentación y Nutrición INAN Sra. Elsi Ovelar.
Seguido del evento, se lleva a cabo una serie de charlas nacionales e internacionales.
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Con la presencia del Ministro de Industria y Comercio, Javier Giménez, del presidente de la Unión Industrial Paraguaya (UIP), Enrique Duarte, del ex presidente y miembro del Conacyt, Eduardo Felippo, la Directora del Instituto Nacional de Tecnología, Normalización y Metrología (INTN), Ing. Lira Rossana Giménez, el presidente del Sistema Interamericano de Metrología (SIM), Javier Arias, la Directora de Relaciones Internacional del BIPM (Oficina Internacional de Pesas y Medidas que es el coordinador mundial de la metrología) viceministros y demás autoridades nacionales y los delegados de los 33 países miembros del SIM, quedó inaugurada oficialmente la Asamblea General del SIM que se realiza en el marco de la SEMANA SIM 2023 (SIM-WEEK).
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